YDP20-0CEV1賽多(duo)利(li)斯(si)天平(ping)打(da)印(yin)機(ji)

YDP20-0CEV1賽多利(li)斯(si)天平(ping)打(da)印(yin)機(ji)

數(shu)據打(da)印(yin)： 符(fu)合實驗室(shi)GLP/GMP規範要求，避免因手工記(ji)錄出(chu)現(xian)差(cha)錯(cuo)。

日期(qi)打(da)印(yin)： 可(ke)以(yi)在打(da)印(yin)報(bao)告(gao)中加入時間(jian)和(he)日期(qi)，數(shu)據可(ke)追(zhui)溯。

數(shu)據統計： 可(ke)以(yi)對(dui)多(duo)份樣品稱重(zhong)數(shu)據進(jin)行統計計算，包(bao)括：測量(liang)次(ci)數(shu)、平(ping)均(jun)值、標(biao)準偏(pian)差、偏(pian)差系(xi)數(shu)、總(zong)和(he)、大值(zhi)、小值(zhi)、偏(pian)差。

編(bian)號(hao)功(gong)能(neng)： 可(ke)以(yi)在每壹份(fen)稱重(zhong)數(shu)據前(qian)自動加入編(bian)號(hao)，避免樣品過多(duo)造(zao)成(cheng)識(shi)別(bie)混(hun)亂(luan)。

電(dian)子(zi)簽名： 通(tong)過(guo)RFID技(ji)術識(shi)別(bie)操作員(yuan)身(shen)份，並(bing)自動在報告(gao)中加入操作員(yuan)簽名。

權(quan)限(xian)管理(li)： 禁(jin)止(zhi)非(fei)授(shou)權人(ren)員(yuan)操作電(dian)子(zi)天平(ping)，並(bing)可(ke)自動生成(cheng)天平(ping)使(shi)用記(ji)錄。

條(tiao)碼識(shi)別(bie)： 通(tong)過(guo)外(wai)接(jie)條碼掃描(miao)器，讀(du)取(qu)樣(yang)品(pin)信息並自動在報告(gao)中加入。

數(shu)據記(ji)錄： 可(ke)記(ji)錄多(duo)達(da)上(shang)萬條(tiao)稱重(zhong)數(shu)據，並通過U盤(pan)導(dao)出(chu)到EXCEL電(dian)子(zi)表格作(zuo)研究分(fen)析。

賽多利斯(si)YDP20型(xing)打(da)印(yin)機(ji)全部打(da)印(yin)功(gong)能，打(da)印(yin)數(shu)據和(he)日期(qi)，具(ju)備(bei)統計求和(he)功能(neng)，符合GMP要求，帶中文顯(xian)示屏(ping)，操作方便，可(ke)打(da)印(yin)中文用戶標(biao)識(shi)，比原廠多保修(xiu)壹年(nian)；

YDP20-0CEV1賽(sai)多(duo)利斯(si)天平(ping)打(da)印(yin)機(ji)